针对表面缺陷检测中同一生产线的产品类内差异小的问题，本文从差异和共性角度出发，提出一个基于记忆的端到端分割网络（MemSeg），其借助异常模拟策略来完成端到端异常定位，通过记忆池辅助模型学习，并且设计高效特征匹配算法来缓解计算负担。实验结果表明，MemSeg在MVTec AD数据集上实现了SOTA性能，同时满足现实工业场景实时性需求。

论文地址：https://arxiv.org/abs/2205.00908

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