- 简介荧光寿命成像显微镜(FLIM)提供了有关分子相互作用和生物过程的详细信息。FLIM 的主要瓶颈是高采集速度下的图像分辨率,这是由于时间分辨成像技术的工程和信号处理限制。在这里,我们提出了单样本图像融合上采样(SiSIFUS),这是一种数据融合方法,用于计算 FLIM 超分辨率,它结合了低分辨率时间分辨探测器(测量光子到达时间)和高分辨率相机(仅测量强度)的测量结果。为了解决这个本来不适定的逆检索问题,我们引入了统计知识先验,编码了两个单样本测量之间的局部和全局依赖关系。这避免了传统数据驱动方法中的分布外幻觉风险,并提供了与标准双线性插值相比的增强图像。由 SiSIFUS 奠定的一般方法可以应用于其他图像超分辨率问题,其中有两个不同的数据集可用。
- 图表
- 解决问题该论文旨在解决荧光寿命成像显微镜(FLIM)在高采集速度下图像分辨率的问题,提出了一种数据融合的方法来进行计算FLIM超分辨率。
- 关键思路该方法通过结合低分辨率的时间分辨探测器和高分辨率的相机的测量结果,使用统计学先验来解决这个逆问题,从而提高图像质量。
- 其它亮点该方法可以应用于其他图像超分辨率问题,实验结果表明该方法相比于标准的双线性插值有更好的效果。论文没有提到具体的数据集和代码是否开源,但是提到了该方法的应用前景和未来研究方向。
- 最近的相关研究包括“Deep learning for single-molecule fluorescence microscopy: methods and applications”和“Super-resolution fluorescence microscopy: a review of the ongoing technologic evolution”等。
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